HEin6000FLichtquellen-Flash-Messgeräte werden verwendet, um in Echtzeit optische Wellenformen, Spektren,PstKurzfristiger Blinkindex, BlinkeffektvisualisierungsparameterSVM、Blinkende WahrnehmungMpFlash-bezogene Parameter. Spezieller Blinkindex für Lichtquellen und Beleuchtungsfelder (FLICKERMessung oder Messung der Blitzfrequenz und der Lichtveränderungskurve von Blitzlampen, Xenonlampen für Autos, Warnlampen und anderen vorübergehenden Lichtquellen. Es kann auch zur Messung der Lichtintensitätsparameter für eine stabile Lichtquelle verwendet werden. Kompatibel mit Integrationskugeln, Lichtintensitätseinrichtungen und Helligkeitsstrommern

▲HochgeschwindigkeitCPUProzessor Elektronische optische Sensoren mit hoher Präzision, hoher Geschwindigkeit16BitADProbenahme, stabilere Leistung und höhere Genauigkeit.

▲Das Upgrade des Systems nutzt ein offeneres Embedded-Betriebssystem mit Quellcode und ist mit dem Design von Anwendungen für intelligente Produkte konform, die keine Folgeupdates für Instrumente bieten Raumbegrenzung, menschliches Schnittstellensystem;

▲übernehmen10.1HD-AuflösungIPSKapazitiver Berührungsbildschirm, hohe Anzeigeauflösung, ein Bildschirm zeigt mehr Inhalte, die farbenfrohe Grafik ist realistischer, die Berührung und die Verwendung sind reibungsloser, das Schnittstellendesign ist vernünftiger und das Erlebnis ist stärker;

▲ Millisekunden Schnellschalter, Ein-Klick-Test, einfacher zu bedienen.

▲Einfaches System-Update

Messparameter

Grundmessungen

▲IEEE PAR 1789„IEEE Std 1789TM-2015»

▲IEC-Pstkurzfristiger Blinkindex,NEMA 77-2017Der kurzfristige Blitzindex (Pst）

▲CA CEC(Energieeffizienz in Kalifornien)

▲HilfeundHilfeEs ist vorgeschrieben.MpBerechnungsmethoden

▲CIE SVM

Blinkender ProzentsatzPFund-BlinkenindexFIund-Periodische Frequenz der Lichtausgabefund-Kurzfristiger Flash-IndexPstund-Flash-Effekt-VisualisierungsparameterSVMund-HilfeBlinkende WahrnehmungMp

Leistungs- und technische Indikatoren

1Lichtmessbereich:0,1 Lx～200.000 LxAutomatisch und4 Messung der Dateigröße;

2Messgenauigkeit: Stufe 1 (±4％）；

3Probegeschwindigkeit:1kS/s, 5kS/s, 10kS/s 100 kS/seinstellen); （kS/sTausende Proben pro Sekunde)

4Probenzeit:0,1s-200s (1kS/s)konfigurierbar;

5Nominierte Arbeitsbedingungen:

6Messmethode: Helligkeit, Lichtdurchfluss, Lichtintensität

7Dateiformat speichern:PDF-DateienundGDFundAusschließen

Hauptprüfparameter

1Grundmessungen

Frequenz, Maximum, Minimum, Durchschnittswert, Blinkindex, Blinkprozent, Modulationstiefe, Blinktiefe, Optomat, Optomat-Vergrößerung, Spektromat

2undIEEE1789

Frequenz, Maximum, Minimum, Durchschnittswert, Blinkindex, Blinkprozent, Modulationstiefe, Blinktiefe, Modulationstiefe

3undIEC Pst

Frequenz, Maximum, Minimum, Durchschnittswert, Blinkindex, Blinkprozent, Modulationstiefe, Blinktiefe, Optomat, Optomat-Vergrößerung, Spektromat

PstundPstBewertung

4undCA CEC

Frequenz, Höchstwert,PAMundPAM（40 Hz),PAM（90 Hz),PAM（200 Hz),PAM（400 Hz),PAM（1000 HzPhotometrie, optische Vergrößerung, Spektrum

5undCA CEC

Blinkender Index, Blinkender Prozentsatz,AbgeordneteundDPunddundeinundFBundAbgeordneteBewertung, Optomat, Optomat Vergrößerung, Spektromat

6undCIE SVM

Frequenz, Maximum, Minimum, Durchschnitt, Blinkenindex, Blinkenprozent,SVMundSVMBewertung, Optomat, Optomat Vergrößerung, Spektromat