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Kalibrierung Substrat ermöglicht es dem Benutzer, jede Mikrowelle Picoprobe® an der Sondenspitze zu kalibrieren. Das Grundprinzip der Kalibrierung eines Messsystems besteht darin, genaue bekannte Normen bereitzustellen, an die das Messsystem angeschlossen werden kann. Unsere Linie an Kalibrierungssubstraten ist ein solcher Standard. Jedes Kalibriersubstrat enthält hochpräzise Elemente zur Kalibrierung der unvermeidlichen Fehler und Verluste in einem Mikrowellennetzanalyser, seiner zugehörigen Verkabelung und der Mikrowellensonde, um eine genaue On-Wafer-Prüfung zu gewährleisten.
Eigenschaften
●Unterstützt präzise SOLT-, LRL- und LRM-Kalibrierungen
●Breiter Steigbereich von 30 bis 2.540 Mikron
●Geeignet für alle Picoprobes® von DC bis 325 GHz
●Verfügbar für GS, SG, GSG Footprints
●Bequeme Ausrichtungsstrukturen
●Individuell getestet und nach strengen Standards geschnitten
Hinweis: Die oben genannten Spezifikationen können variieren.
Unsere präzisen, einfach zu bedienenden Kalibrierungssubstrate, Kalibrierungskoeffizienten und detaillierten Anweisungen ermöglichen es Ihnen, das Messsystem (Netzwerkanalysator + Verkabelung + Sonde) zu korrigieren, wenn es eine andere Messung als der Standard erzeugt.
Die typischen Elemente zur Kalibrierung eines Mikrowellenmesssystems bestehen aus Öffnungen, Shorts, passenden Lasten und Durchgängen. Diese vier Elemente weisen sehr unterschiedliche elektrische Eigenschaften auf, so dass jedes Element einen wichtigen Teil zum gesamten Kalibrierungsprozess beiträgt. Grundsätzlich könnte jeder Satz von Normen eingesetzt werden, je mehr die Normen identisch sind, desto weniger genau wird der Kalibrierungsprozess, was wiederum zu einer ungenauen On-Wafer-Prüfung führt. Unsere präzise gefertigten Kalibrierungssubstrate, wenn sie richtig verwendet werden, garantieren Ihnen genaue On-Wafer-Testergebnisse.
So wählen Sie das richtige Kalibriersubstrat für Ihre Probeanwendungen aus:
1. Identifizieren Sie den Fußabdruck und die Höhe Ihres Picoprobe (Spitzenabstand);
2. Bestimmen Sie, welcher Kalibriertyp für Ihre Anwendung geeignet ist (SOLT, LRL/TRL oder LRM/TRM)*;
3. Wählen Sie mit dem Leitfaden zur Auswahl des Kalibrierungssubstrats das Kalibrierungssubstrat aus, das dem Fußabdruck Ihres Picoprobes, dem empfohlenen Höhenbereich und Ihrem bevorzugten Kalibrierungstyp entspricht.
Leitfaden zur Auswahl des Kalibrierungssubstrats
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Kalibrierung |
Pad Größe (Mikron) |
Kalibrierung |
Fußabdruck |
Pitch Bereich |
Pitch Bereich |
|
CS-5 |
50 x 50 |
SOLT, LRL, LRM |
GSG |
75 - 250 |
75 -250 |
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CS-9 |
100 x 100 |
SOLT, LRL, LRM |
GSG |
250 - 600 |
150 - 600 |
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CS-10 |
150 x 150 |
SOLT und LRM |
GSG |
600 - 1250 |
225 - 1250 |
|
CS-18 |
300 x 300 |
SOLT und LRM |
GSG |
1250 - 2540 |
500 - 2540 |
|
CS-8 |
50 x 50 |
SOLT und LRM |
GS, SG |
50 - 200 |
50 -300 |
|
CS-14 |
100 x 100 |
SOLT und LRM |
GS, SG |
200 - 400 |
150 - 600 |
|
CS-11 |
150 x 150 |
SOLT und LRM |
GS, SG |
400 - 1250 |
175 - 1250 |
|
CS-17 |
300 x 300 |
SOLT und LRM |
GS, SG |
750 - 2540 |
450 - 2540 |
Spezielle Kalibrationssubstrate für den Einsatz über 110GHz
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Kalibrierung |
Pad Größe (Mikron) |
Kalibrierung |
Fußabdruck |
Pitch Bereich |
Pitch Bereich |
|
CS-15 |
25 x 25 |
SOLT, LRL, |
GSG |
40 - 150 (SOLT) |
40 - 150 |
SOLT = Short-Open-Load-Through
LRL = Line-Reflect-Line (das entspricht TRL = Through-Reflect-Line)
LRM = Line-Reflect-Match (das entspricht TRM = Through-Reflect-Match)
Kalibrierung Substrat Spezifikation:
· Unterstützt präzise SOLT-, LRL/TRL- und LRM/TRM-Kalibrierungen
· Enthält CalKit-Software für das einfache Laden auf Network Analyzer
· Breiter Steigungsbereich von 30 bis 2.540 Mikron
· Geeignet für alle Picoprobes® von DC bis 220 GHz
· Verfügbar für GS, SG, GSG Fußabdrücke
· Bequeme Ausrichtungsstrukturen
· Individuell getestet und nach strengen Standards geschnitten
Differentialkalibrierungssubstrat Spec.:
· Unterstützt präzise SOLT-, LRL- und LRM-Kalibrierungen
· Enthält CalKit-Software für das einfache Laden auf Network Analyzer
· Höhenbereich von 90 bis 1325 Mikron
· Geeignet für alle Picoprobes® von DC bis 110 GHz
· Verfügbar für GSGSG, GSSG und SGS Footprints
· Laststandards individuell auf 0,25% Genauigkeit geschnitten
· 25 mil (635 Mikron) dickes Aluminiumoxid-Substrat