Rechnertyp BCM-400E

Einfache Einführung
Die Computermikroskope der Serie BCM-400E sind mit Abstandsbeleuchtung, Flachfeldobjektiven, Großfeldbrillen, klaren Bildern, guter Linie und Polarisationseinrichtungen ausgestattet. Die Reflexionsmetallmikroskope eignen sich für kleine und unbequem umgekehrte Proben sowie für die Beobachtung und Analyse von Proben, die Ziele in einem bestimmten Bereich suchen müssen.
Detaillierte Beschreibung des PCs BCM-400E
Einsatz:
Die Computermikroskope der Serie BCM-400E sind mit Abstandsbeleuchtung, Flachfeldobjektiven, Großfeldbrillen, klaren Bildern, guter Linie und Polarisationseinrichtungen ausgestattet. Die Reflexionsmetallmikroskope eignen sich für kleine und unbequem umgekehrte Proben sowie für die Beobachtung und Analyse von Proben, die Ziele in einem bestimmten Bereich suchen müssen. Aus diesem Grund können Reflexion-Metallphasemikroskope neben der Identifizierung und Analyse der Gewebestrukturen verschiedener Metall- und Legierungsmaterialien sowie Nichtmetallstoffe weit verbreitet in der Elektronik-, Chemie- und Instrumentenindustrie zur Beobachtung von undurchsichtigen Substanzen eingesetzt werden. Arbeiten wie Metallkeramik, integrierte Schaltungen, Elektronik-Chips, Leiterplatten, Flüssigkristallplatten, Fasern, Beschichtungen und andere nicht-metallische Materialien, um einige Oberflächenzustande zu untersuchen und zu analysieren. Reflexionsmetallphasemikroskope eignen sich auch für die Beobachtungsanalyse in den Bereichen Medizin, Agrarforstwirtschaft, öffentliche Sicherheit, Schulen und Forschung.
1. Brille
Typ
Vergrößern
Brennweite (mm)
Sichtfeld (mm)
Flache Brille
10X
25
Φ18
2. Objektive
Objektivtyp
Vergrößern
Numerischer Durchmesser
Arbeitsabstand (mm)
Flachfeld Farbdifferenz Objektiv
5X
0.12
18.3
10X
0.25
8.9
40X
0.60
3.7
60X
0.85
0.26
Optische Vergrößerung: 50x 100x 400x 600x
Systemreferenzvergrößerung: 50X-2600X
5. Fallbeleuchtung: 6V / 20W Halogenlampe, 220V (50Hz) Helligkeit einstellbar
6. Filter-Set: Drehscheibe, gelb, blau, grün, geschliffenes Glas
7. Polarisationsvorrichtung: Einfügbare Startpolarisationsplatte und eingebaute Inspektionspolarisationsplatte
8. Bewegungsbereich des Trägertisches: Länge 50mm; Horizontal 75mm
9. Fokussystem: coaxial grobe Bewegung mit Limit-Position und Verstellung der Entspannungseinrichtung,
Mikrorasterwert 0,002mm
Puppelweite: 53-75mm
11. Schimmelschutz: spezifisches Schimmelschutzsystem
4. Systemzusammensetzung:
Computerbasiertes Reflexionsdetektionsmikroskop (BCM-400E): 1, Metallphasemikroskop 2, Adapterspiegel 3, Kamera (CCD) 4, A/D (Bilderfassung) 5, Computer
Digitalkameratyp Reflexionsdetektionsmikroskop (BCM-400Z): 1, Metallphasemikroskop 2, Anpassungsspiegel 3, Digitalkamera.