Röntgenfluorescenzspektrometer EDX8800 (Vakuum)

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Kurze Einführung: Energie-Diffusion-Röntgenfluorescenzspektrometer EDX8800 (Vakuum-Typ) Elementanalyse reicht von Natrium (Na) bis Uran (U), mit internationalen fortschrittlichen US-Original-Import-SDD-Silizium-Drift-Detektor, höhere Auflösung, erheblich verbessert die Erkennungsgrenze für leichte Elemente, Standard-Erkennungsgrenze 100 Mal höher als SI-PIN-Detektor Energie-Diffusion-Röntgenfluorescenzspektrometer EDX8800 (Vakuum-Typ)

Produktdetails

Details:

Röntgenfluorescenzspektrometer EDX8800 (Vakuum)

Produkteigenschaften

1. Die Verwendung eines internationalen fortschrittlichen US-Original-Import-SDD (SILICON DRIFT DETECTOR) Siliziumdrift-Detektors mit einer höheren Auflösung verbessert die Erkennungsgrenze für leichte Elemente erheblich und die Standard-Erkennungsgrenze ist 100-mal höher als der SI-PIN-Detektor; Der Messbereich ist breiter und deckt im Grunde verschiedene Anforderungen an die Analyse von herkömmlichen Materialelementen ab;

2. Konfigurieren Sie das US-Original-Importdaten-Integrationsverarbeitungssystem, schnellere Datenerfassung, stabilere Messungen, bessere Wiederholbarkeit und langfristige Stabilität;

Konfigurieren Sie die neu entwickelte spezielle Messsoftware, die eine Vielzahl von grafischen Berechnungsmethoden integriert, um die Messdaten genauer und stabiler zu machen;

4. Software überwacht den Betriebszustand der wichtigsten Kernkomponenten des Instruments, schnellere Verwendung;

5. Konfiguration eines speziell entwickelten Vakuumsystems, bessere Vakuumleistung und bessere Testergebnisse;

Technische Parameter:

Elementaranalyse von Natrium (Na) bis Uran (U)

Elementgehaltsanalysebereich von 1 ppm bis 99,99%

Niedrige Detektionsgrenze: 1ppm

4. Messzeit: 60-200 Sekunden (einstellbar)

5. Geräte Betrieb Stromversorgung: AC220 ± 5V

Energieauflösung 129±5eV

7. Großer Ausgangsstrom der Röntgenröhre: 1mA

Grenzdruck: 6,7 x 10^-2Pa

9. Probenhahlgröße: 610 * 320 * 100 (mm) (ohne Vakuum zu pumpen) / Φ100 * h75 (mm) (Vakuum-Probenhahlgröße)

Wiederholbarkeit mehrerer Messungen (auf Basis von Standardproben): ± 0,05% (hoher Gehalt) / ± 0,002% (Spuren)

Langfristige Arbeitsstabilität (basierend auf Standardproben) ±: 0,06% (hoher Gehalt) / ± 0,0025% (Spuren)

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