IC mit Mikroskop FJ-5

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Produktdetails FJ-5 Forschungsklasse Metallophasmikroskop wurde für die Halbleiterindustrie, Siliziumfertigung, elektronische Informationsindustrie, metallurgische Industrie Bedürfnisse entwickelt, als Metallophasmikroskop Benutzer in der Lage, ihre überragende Leistung zu erleben, kann weit verbreitet in Halbleitern, FPD、 Prüfung von Schaltungsverpackungen, Schaltungsunterlagen, Werkstoffen, Guss-/Metall-/Keramikkomponenten, Präzisionsformen

Produktdetails

FJ-5 Forschungsklasse Metallophasmikroskop wurde für die Halbleiterindustrie, Siliziumfertigung, elektronische Informationsindustrie, metallurgische Industrie Bedürfnisse entwickelt, als Metallophasmikroskop Benutzer in der Lage sein, ihre extrem starke Leistung zu erleben, kann weit verbreitet in Halbleitern, FPD、 Prüfung von Schaltungsverpackungen, Schaltungsunterlagen, Werkstoffen, Guss-/Metall-/Keramikkomponenten, Präzisionsformen. Dieses Instrument verwendet zwei Beleuchtungsformen von Reflexion und Transmission, bei reflektierter Lichtbeleuchtung können helle und dunkle Feldbebeobachtungen sowie DIC-Beobachtungen und Polarisationsbeobachtungen durchgeführt werden. Beobachtung unter durchlässigem Licht. Das stabile, qualitativ hochwertige optische System sorgt für eine klarere Bildgebung und eine bessere Linie. Ergonomische Anforderungen erfüllen, damit Sie sich bei der Arbeit wohl und entspannt fühlen.
Merkmale Beschreibung
1. Verwendet die Objektivbildtechnik des optischen Wegkorrektorsystems UIS mit hoher Auflösung und langer Arbeitsentfernung.

2. Die Multifunktionstechnik des Objektivs wurde erweitert, das Teleskop ist mit allen Beobachtungsmethoden kompatibel, einschließlich Hell and Dark Field Methode, Polarisation Methode, DIC und bietet in jeder Beobachtungsmethode eine hohe Auflösungsbildqualität.

3. Verwenden Sie nicht-sphärische Kohler-Beleuchtung, um die Beobachtungshelligkeit zu erhöhen.

4. WF10× (Φ25) super große Sichtfeldbrille, lange Arbeitsdistanz hell-dunkel-Feld-metallische Objektive.

Umrichter für DIC-Differenzialinterferenzeinrichtungen.

Technische Daten
Beobachten Sie Kopf	30° Scharnier (50mm-75mm)
Brille	WF10×/25mm
Brille	WF10×/20mm, mit 0,1mm Kreuztrennplatte
Objektive	Lange Arbeitsplätze. Entfernte Licht- und Dunkelfeldobjektive: 5×/0.1B.D/W.D.29.4mm, 10×/0.25B.D/W.D.16mm, 20×/0.40B.D/W.D.10.6mm, 40×/0.60B.D/W.D.5.4mm,
Konverter	Vierloch-Konverter mit DIC-Steckdose
Plattform	Doppelschichtige mobile Plattform
	Plattformgröße: 189mm x 160mm
	Bewegungsbereich: 80mm x 50mm
Farbfilter	Farbfilter (grün, blau, neutral)
Schwerpunktspiegel	N.A.1.25 Abbey Fokus mit variablem Licht und Farbfilter
Fokussieren	Grobe, mikrodynamische Koaxialfokussierung mit Zahnrad-Antrieb. Mikrogriffwert 0,002mm
Lichtquelle	Durchlässige Beleuchtung: Halogenlampe 12V / 50W, AC85V-230V, Helligkeit einstellbar
Lichtquelle	Fallbeleuchtung: Lichtleiste mit Durchmesser und Sichtfeld, Halogenlampe 12V/50W, AC85V-230V, Helligkeit einstellbar
Polarisationseinrichtung	Der Spiegel kann um 360 Grad gedreht werden, der Spiegel und der Spiegel können aus dem Lichtweg entfernt werden.
Testwerkzeuge	0,01 mm Messmesser
Zubehör verfügbar	2D-Messsoftware
	Professionelle metallische Bildanalyse-Software
	Fallbeleuchtung: Halogenlampe 12V / 100W, AC85V-230V, Helligkeit einstellbar
	Licht- und Dunkelfeldobjektive: 50×/0.55B.D/W.D.5.1mm, 80×/0.75B.D/W.D.4mm, 100×/0.80B.D/W.D.3mm
	Mikroskop
	1,3 Millionen, 2 Millionen, 3 Millionen, 5 Millionen Pixel CMOS Elektronische Brille
	Kameraeinrichtungen und CCD-Schnittstellen 0,5×, 0,57×, 0,75×
	DIC (10×, 20×, 40×, 100×)
	Pressmaschine
	Farbe 1/3 Zoll CCD 520 Leitungen

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