Licht-Flash-Tester

Der Lichtquelle-Flash-Tester dient zur Echtzeit-Aufzeichnung von schnell veränderten optischen Wellenformen, Spektren, Pst-kurzfristigen Blinkindex, Flash-Effektvisualisierungsparametern SVM, Blinkempfindlichkeit Mp und anderen Flash-bezogenen Parametern.

HA6000F Lichtquelle-Flash-TesterEs dient zur Aufzeichnung von optischen Wellenformen, Spektren, kurzfristigen Blinkindex Pst, Blinkeffektvisualisierungsparametern SVM und Blinkempfindlichkeit Mp in Echtzeit. Speziell für die Messung des Blinkindex (FLICKER) von Lichtquellen, Beleuchtungsfeldern oder der Blinkfrequenz und Lichtveränderungskurven von transienten Lichtquellen wie Blinken, Xenonlampen für Autos und Warnlampen. Es kann auch zur Messung der Lichtintensitätsparameter für eine stabile Lichtquelle verwendet werden. Kompatibel mit Integrationskugeln, Lichtintensitätseinrichtungen und Helligkeitsstrommern

▲ Hochgeschwindigkeits-CPU-Prozessor mit hochpräzisem elektronischem optischem Sensor, hoher Geschwindigkeit 16-Bit-AD-Abtastung, stabilere Leistung und höhere Präzision.

▲ Das Upgrade des Systems verwendet ein offeneres Embedded-Betriebssystem mit Quellcode und entspricht dem Anwendungsdesign von intelligenten Produkten, um einen unendlichen Raum für die nachfolgenden Upgrades von Instrumenten zu bieten, menschliches Schnittstellensystem;

▲ Mit 10.1 HD IPS-kapazitiven Touchscreen, hoher Anzeigeauflösung, einem Bildschirm, der mehr Inhalte anzeigt, ist die farbenfrohe Grafik realistischer, berührt und verwendet reibungsloser, ist das Schnittstellendesign vernünftiger und erlebt stärker;

▲ Millisekunden Schnellschalter, Ein-Klick-Test, einfacher zu bedienen.

▲Einfaches System-Update

Licht-Flash-TesterMessparameter

Grundmessungen

▲ IEEE PAR 1789 und IEEE Std 1789TM-2015

IEC-Pst kurzfristiger Blinkindex, NEMA 77-2017 definiert den kurzfristigen Blinkindex (Pst)

CA CEC (Kalifornische Energieeffizienz)

ASSIST bestimmt die Berechnungsmethode von Mp

▲ CIE SVM

Blinkprozent PF, -Blinkindex FI, -periodische Frequenz der Lichtausgabe f, -kurzfristiger Blinkindex Pst, -Blinkeffektvisualisierungsparameter SVM, -ASSIST Blinkempfindlichkeit Mp

Leistungs- und technische Indikatoren

Lichtmessbereich: 0,1 lx bis 200.000 lx; Automatische und 4-Gang-Messungen;

2. Messgenauigkeit: Stufe 1 (± 4%);

Probegeschwindigkeit: 1kS/s, 5kS/s, 10kS/s und 100 kS/s); (kS/s: Tausend Abtastungen pro Sekunde)

Probezeit: 0,1s-200s (1kS / s) kann eingestellt werden;

5. Nominierte Arbeitsbedingungen:

6, Messmethode: Licht, Helligkeit, Lichtstrom, Lichtintensität

Dateiformate speichern: PDF, GDF, EXCLE

HA6000F FlashtesterHauptprüfparameter

1. Grundmessungen

Frequenz, Wert, Minimum, Durchschnittswert, Blinkindex, Blinkprozent, Modulationstiefe, Blinktiefe, Optodiagramm, Optodiagrammvergrößerung, Spektrodiagramm

2. Der IEEE1789

Frequenz, Wert, Minimum, Durchschnittswert, Blinkindex, Blinkprozent, Modulationstiefe, Blinktiefe, Modulationstiefe

3. IEC PST

Frequenz, Wert, Minimum, Durchschnittswert, Blinkindex, Blinkprozent, Modulationstiefe, Blinktiefe, Optodiagramm, Optodiagrammvergrößerung, Spektrodiagramm

pst, pst bewertung

4. CA CEC

Frequenz, Wert, PAM、PAM（40Hz）、PAM（90Hz）、PAM（200Hz）、PAM（400Hz）、PAM（1000Hz） Optodiagramme, Optodiagrammvergrößerung, Spektrogramme

5, CA CEC

Blinkenindex, Blinkenprozent, MP, DP, d, a, fb, MP-Bewertung, Optomat, Optomat-Vergrößerung, Spektromat

6, CIE SVM

Frequenz, Wert, Minimum, Durchschnittswert, Blinkenindex, Blinkenprozent, SVM, SVM-Bewertung, Optomat, Optomat-Vergrößerung, Spektromat