PCB-Leiterplatten-Schnittanalyse-Lösung _ Metallphasemikroskop

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PCB-Leiterplatten-Schnitt-Analyse-Lösung Prüfungsanforderungen: PCB-Leiterplatten, nach der Herstellung von Schnitten grünes Öl, Kupferdicke usw. zur Qualitätsbeurteilung und Qualitätsanfälligkeitsanalyse, Prüfung der Qualität der Leiterplatten, PCBA-Schweißqualitätsprüfung, Suche nach Ausfallsgründen und Lösungen, Bewertung von Prozessverbesserungen als Grundlage für objektive Prüfung, Forschung und Urteil

Produktdetails

PCB-Scheibenanalyselösungen

Testanforderungen:

Die PCB-Platte, nach der Herstellung von Schnitten grünes Öl, Kupferdicke usw. zur Qualitätsbestimmung und Qualitätsanfälligkeitsanalyse, zur Prüfung der Qualität der Leiterplatte, zur Prüfung der PCBA-Schweißqualität,

Die Suche nach Ursachen und Lösungen für Fehler und die Bewertung von Prozessverbesserungen als Grundlage für objektive Prüfung, Forschung und Urteil.

Die Qualität oder das schlechte Aussehen der Außenschicht kann durch einen optischen Detektor oder eine optische Inspektion bestimmt werden;

Für die Qualitätsbestätigung der inneren Schicht oder des Lochs nach dem Kompressen ist jedoch eine Qualitätsbeurteilung durch Schnitte und eine vorläufige Analyse der Ursache der Schäden erforderlich.

Die Schnittanalyse ist eine wichtige Technik für die Ausfallanalyse von PCB / PCBA, und die Schnittqualität beeinflusst direkt die Genauigkeit der Bestätigung der Ausfallstelle.

Lösungen:

Materialanalyse Metallphasemikroskop ist für Metallmaterialien, Strukturanalyse geeignet. Mithilfe eines koaxialen vertikalen Beleuchtungssystems beseitigt das Licht gut,

Dadurch wird der Kontrast (Lining) und die Klarheit des Bildes erheblich verbessert. Zusammen mit Messsoftware, um die Dickenmessung zu erfüllen, kann die Metallphase-Analysesoftware die Materiallage effektiv analysieren;

Abbildung des experimentellen Instruments:

Falleffekt-Symbol：

PCB-Leiterplatten-Schnittanalyse-Lösung _ Metallphasemikroskop

Technische Daten:

Gesamtvergrößerungsrate	50X bis 500X (optional 100X Objektiv, maximale Vergrößerungsrate von 1000X)
Brille	Großes Sichtfeld mit 10x hohem Augenpunkt (FN20), verstellbarer Sicht
Objektive	Flächenobjektive mit unbegrenztem Arbeitsabstand 5X/0,13, 10X/0,30, 20X/0,40, 50X/0,55, (optional 100X/0,80)
Beobachtungskammer	Scharnierbare Doppelbrille 30°; Scharniertes Triglas 30° geneigt (Leuchtverhältnis: 20:80)
Doppelbrille Augenaufstand	55 bis 75 mm
Maximale Probendicke	30 mm
Objektivumsetzer	Innenpositionierter fünflochiger Objektivumsetzer
Grober Dynamischer Fokus	Grobe mikrokoaxiale Fokussierung, Grobe Fokussierung Gesamtstrecke 30mm, mikrodynamische Fokussierung 0,2mm / Dreh, 0,002mm / Gitter.
Mechanisch bewegliche Tragstelle	Einzigartiges dreistöckiges Trägerstückdesign, große Fläche: 180X140mm; Strecke: 75x50mm; X- und Y-Richtungseinstellung.
Beleuchtung	Koaxiale Fallbeleuchtung 12V/50W Halogenlampe
Farbfilter	Glas, Blau, Gelb, Grün
Erweiterte Funktionen	Mit einem guten Erweiterungs-Upgrade-Raum, nicht nur mit der traditionellen Metaphasemikroskop-Beobachtungsfunktion, sondern auch mit Mikrofotografie, Kamerafunktion, Polarisationsbeobachtungsfunktion, Metaphasenalysesoftware usw.

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