SECOM - Integrated Optoelectronic Connectivity-Plattform

Die SECOM-Plattform integriert die jeweiligen Vorteile der optischen und Elektronenmikroskope und ergänzt die Plattform auf bestehende Elektroskope für hochpräzise, automatisierte optische Zusammenhänge. Die Kombination von fluoreszierender Bildgebungsfunktionsanalyse und hochauflösender ultramikrostruktureller Information aus Elektronenmikroskopen macht die SECOM-Plattform besonders geeignet, um komplexe Beziehungen zwischen biologischer Ultramikrostruktur und Funktion zu untersuchen.

Durch die Einrichtung eines umgekehrten Fluoreszenzmikroskops in die Vakuumkammer eines Scan-Elektronenmikroskops (SEM) ermöglicht SECOM eine gleichzeitige Fluoreszenz- und Scan-Elektronenmikroskopbildgebung. Die SECOM-Plattform verfügt über eine hochpräzise elektrische Tragstelle und ein komplettes Fluoreszenzmikroskopsystem.

Dank seines integrierten Designs kann der Wechsel von der fluoreszierenden Bildgebung zur elektronischen Scan-Bildgebung schnell und nahtlos erfolgen. Das System verfügt über eine automatische Kalibrierung des Optik- und Elektroskop-Koordinatensystems, um eine Gegenstandsgenauigkeit von weniger als 50 nm zu erreichen und optische und elektrische Spiegelbilder automatisch zu überlagern. Die SECOM-Plattform ist mit einem Visualisierungssoftware-Paket ausgestattet, das den einfachen Zugang zu optischen und elektroskopischen Bildern ermöglicht. Das Softwarepaket steuert die Bewegung der SECOM-Trägerplattform, die Ausrichtung der Objektive und die Bedienung des Elektronenmikroskops.

Die SECOM-Plattform lässt sich einfach auf bestehende SEMs installieren und bietet eine perfekte Integration von Glas- und Elektroskop-Workflows. Ohne Kompromisse bei der optischen Leistung und der bestehenden Elektroskopleistung werden die ursprünglichen Leistungsstandards beibehalten.

Schlüsselfunktionen

Bild automatisch überlagern

Dank der automatischen Überlagerung der SECOM-Plattform können Sie weniger Aufwand aufwenden als bei herkömmlichen Methoden wie dem manuellen Überlagern von EM- und FM-Bildern. Außerdem braucht SECOM keine herkömmlichen Erkennungspunkte zur Positionierung zu verwenden, basiert auf einem autonomen, patentgeschützten, automatischen Koordinatenkalibrierungssystem, das die Positionierung der Probe selbst nicht schädigt, was Wissenschaftlern eine schnellere Bildgebung und eine präzisere Überlagerung gewährleistet. Die Software überlagert automatisch die Bilder und hilft den Wissenschaftlern, sich ganz auf das Experiment selbst zu konzentrieren, ohne sich auf triviale technische Bearbeitungen zu konzentrieren.

Führende optische Leistung

Durch den Einsatz hochwertiger optischer Komponenten stellen wir sicher, dass jedes integrierte System von delmic optimale optische Leistungen bietet. Mehrbandfluoreszenzbildgebung ist die Standardkonfiguration von SECOM. Wenn es besondere Anforderungen gibt, anpassen wir uns an die Bedürfnisse der Kunden.

Öleintauchte optische Objektive

DELMIC hat ein einzigartiges, patentiertes Produkt für Vakuumsysteme entwickelt. Dies ermöglicht es Ihnen, optische Leistungen mit hohen numerischen Aperturen (NA = 1,4) auf der SECOM-Plattform zu erzielen. SECOM-Systeme unterstützen Tauch- und Öleintauchobjektive, die nach Ihren Bedürfnissen konfiguriert werden.

Systemkompatibilität

Nutzen Sie Ihr SEM-Potenzial

SECOM kann als Zubehör für SEM direkt über die SEM-Vakuumkammertür montiert werden. SECOM ist vollständig kompatibel mit herkömmlichen SEM-Detektoren und stört nicht miteinander, so dass die ursprünglichen Fähigkeiten Ihres Elektronenmikroskops nicht beeinträchtigt werden. SECOM unterstützt außerdem spezielle Funktionen wie den Elektronenstrahlverlangsamungsmodus, die in-Objektivdetektion und den Eintauchmodus. Wie andere Produkte von DELMIC ist SECOM kompatibel mit den gängigen kommerziellen SEM-Modellen.

Unübertroffene Überlagerungsgenauigkeit

Präzise, abweichungsfreie und automatische Überlagerung ohne Benutzereingriff

Das automatische Überlagerungsprogramm der SECOM-Plattform ermöglicht eine perfekte Ausrichtung der Elektroskop- und Optikbilder. Die abweichungsfreie automatische Überlagerungsfunktion nutzt eine einzigartige patentierte Kathodenlichtkalibriertechnologie, die eine hohe Zuverlässigkeit und Genauigkeit der Standortinformation gewährleistet und ein leistungsstarkes Werkzeug für die Biowissenschaftliche Forschung ist. Der Schlüssel zum Gegensatzprozess liegt in der physikalischen Prinzipien der Kathodenlichtung, der Elektronenstrahl bombardiert das Glas, um die Kathodenlichtung zu erzeugen und die Positionsinformationen durch das Spiegel zu sammeln, in Zusammenarbeit mit einem präzisen beweglichen Trägerstand und einem Fehlerkorrekturalgorithmus für die Multi-Point-Matrix-Array, um weniger als50nmGegengenauigkeit.

Benutzerfreundliche Oberfläche

Die modulare Open-Source-Software ODEMIS verfügt über eine benutzerfreundliche Oberfläche, die sich leicht für Kunden aus verschiedenen Forschungsbereichen eignet. Wir sind bestrebt, ein einzigartiges System für die Integration von Hardware und Software bereitzustellen, das den vielfältigen Forschungsanforderungen gerecht wird.

Eigenschaften

Automatische Kalibrierung der Koordinaten der Optik und der Elektroskop mit einem Klick

Autofokussierung

Datenexport-Funktion

Koordinatenpositionsspeicher-Rückverfolgung

Open Source Python-Schreiber für kundenspezifische Sekundärentwicklung

Vollständig integrierte Steuerungshardware einschließlich SEM

Fortgeschrittene Bildverarbeitungs-Algorithmen, mit denen Benutzer auch fortschrittliche Bildverarbeitungs-Algorithmen entwickeln können, die sich besser an ihre Bedürfnisse anpassen

Automatische Steuerung

Hochpräzise elektrische Plattform

Motorgetriebene Closed-Loop-Steuerprobenständer ermöglichen dem Anwender die genaue Navigation der Probenposition im Nanoskala. Das alles dank präziser piezoelektrischer Schrittmotoren und optischer linearer Encoder-Rückkopplungs-Schleifensteuerung auf der SECOM-Plattform

Super Flexibilität

Modulares Design

Mit Open-Source-Software und modularen Designfunktionen bietet SECOM Ihnen die volle Freiheit, experimentelle Designs zu entwickeln. Das System ist weiterhin skalierbar und das modulare Design gewährleistet gleichzeitig eine zuverlässige Integrationsleistung des Systems.

Anwendungsbeispiele

Schnittbildgebung

Benutzen Sie Fluoreszenz, um bestimmte Bereiche zu kalibrieren, um eine monomolekulare Subzelle mit CLEM zu bilden, um eine Ultramikrostruktur zu erhalten.

Figure : Localization of the lipid diacylglycerol within cellular membranes of HeLa cell expressing GFP-C1.

Image courtesy: C.J. Peddie and L.M. Collinson, Francis Crick Institute

Figure : Hela Kyoto cells stably expressing GalNAC-T2-GFP and Histone 2B-mcherry. The cells were grown on carbon coated sapphire disks and high pressure frozen. The cells were then freeze substituted with 0.1% UA in glass distilled acetone in Lowicryl HM20.

Sample courtesy: P. Ronchi & Y. Schwab, EMBL

Bildgebung von Kulturzellen

CLEM ist auch ein sehr gutes Werkzeug für die Untersuchung der Morphologie und Oberflächenstruktur von Zellen. CLEM bietet schnelle und direkte Forschungsmittel, um die Morphologie der Zelle und die Beziehung zu ihren spezifischen Gong-Proteinen zu erfahren.

Überlagerte Bilder für Fluoreszenz- und Elektrospiegelbildgebung

Figure: Human umbilical vein endothelial cells (HUVEC) contain rod-like storage granules called Wiebel-Palade boddies which store Von Willebrand factor (VWF) These organelles play an important role in blood coagulation. Actin (Phalloidin Alexa 488) and VWF (Alexa 568).

Sample courtesy of M.J. Mourik, LUMC.