Technische Spezifikationen der Alterungsprobe

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Modell

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Übersicht

Hauptparameter Temperaturbereich: RT + 10 ~ 98 ℃ Anzahl der Schubladen kann angepasst werden Es gibt eine digitale Anzeige Controller und Programm Touchscreen Controller Auswahl Geeignet für Halbleiter-IC, Transistoren, Dioden usw., Beschleunigte Lebensdauer Alterungstest

Produktdetails

Produktparameter Produktbeschreibung Produkteigenschaften

Modellnummer	YSA-3	YSA-4	YSA-6
Testbereichsgröße W × H × D (cm)	10×5.4×26	10×5.4×26	10×5.4×26
Größe W × H × D (cm)	53×70.5×54.9	68×70.5×54.9	83×70.5×54.9
Temperaturbereich	Raumtemperatur +10 ℃ ~ 98 ℃
Temperaturschwankungen	±0.3℃
Genauigkeit der Temperaturauflösung	±0.1℃
Aufwärmzeit	45 min
Außenmaterial	SUS#304 Edelstahlplatte
Inneres Material	SUS#304 Edelstahlplatte
Wärmeisolierungsmaterial	Glasbaumwolle
Heizungssystem	SUS# Hochgeschwindigkeitsheizung aus Edelstahl
Steuerungssystem	Tastenbediener
Sicherheitseinrichtungen	Phasenfolgeschutz, Übertemperaturschutz, Überlastschutz
Stromversorgung	AC 1Ψ 220V 60/50Hz
Maßgeschneiderter Service	Nicht spezielle Anforderungen, anpassbar

Alterungsbeschleunigte Lebensdauerprüfung vor Zinnprüfungen für elektronische Steckverbinder, Halbleiter-ICs, Transistoren, Dioden, LCD-Flüssigkristalle, Chip-Widerstandskapazitoren, Komponentenindustrie und elektronische Komponenten

Anzahl der Schubladen kann angepasst werden, Standardmodell mit 3 oder 4 Schubladen
Vollständiger SUS 304 Edelstahl
Digitaler Controller oder programmierbarer Touchscreen optional
Vollautomatischer Übertemperatur- und Wasserschutz

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