Dreifache reflektierende Positive Metallphase BMM-55

1. Verwendung des Instruments:
Die Serie BMM-55 ist für die Elektronik-, Metallurgie-, Chemie- und Instrumentenindustrie geeignet, um transparente, halbdurchsichtige oder undurchsichtige Materialien wie Metallkeramik, integrierte Blöcke, Leiterplatten, Flüssigkristallplatten, Folien, Fasern, Beschichtungen und andere nichtmetallische Materialien zu beobachten, sowie für die Beobachtungsanalyse in der Medizin, Agrarforstwirtschaft, öffentlicher Sicherheit, Schulen und Forschung.

II. Systemeinleitung
Dieses System ist die Kombination des herkömmlichen optischen Mikroskops mit dem Computer (Digitalkamera) durch die optische Umwandlung organisch, kann nicht nur die Mikrobeobachtung auf der Brille, sondern auch auf dem Computer (Digitalkamera) Display-Bildschirm in Echtzeit beobachten dynamische Bilder, computerbasiertes Metaphasemikroskop und kann die erforderlichen Bilder bearbeiten, speichern und drucken.

Technische Parameter

1. Brille

2. Objektive

Optische Vergrößerung: 50X - 2000X Systemreferenzvergrößerung: 50X - 3200X
4. Doppelschicht mechanische Tragstisch: Größe 185mm * 142mm Bewegungsbereich 75mm * 50mm
5. Fokussierungssystem: Koaxiale Grobbewegung mit Limit-Position und Verstellung der Entspannungseinrichtung, Mikrobewegungswert 0,002mm
Puppelweite: 53-75mm
7. Filtergruppe: Drehscheibe, gelb, blau, grün, geschliffenes Glas
8. Polarisationsvorrichtung: Einfügbare Startpolarisationsplatte und eingebaute Inspektionspolarisationsplatte
Beleuchtungssystem: 6V / 20W Halogenlampe, einstellbare Helligkeit; 220V（50Hz）

4. Systemzusammensetzung
Computermikroskop (BMM-55E):
1. Metallmikroskop
2. Anpassungsspiegel
Kamera (CCD)
A/D (Bilderfassung)
5. Treibersoftware
6. Datenleitung
Computer (optional)
Digitales Metallphasemikroskop (BMM-50D):
1. Metallmikroskop
2. Anpassungsspiegel
3. Digitale Kameras

5. Auswahl der Einkäufe
1. Hochpixelbildsystem
2. Metallographische Analysesoftware
Brille WF16X