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Raum 409 der internationalen Forschungs- und Entwicklungsgemeinschaft von Suzhou
Suzhou Deju Mikroinstrumente Co., Ltd.
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Raum 409 der internationalen Forschungs- und Entwicklungsgemeinschaft von Suzhou
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Hundertmal schneller Multi-Strahl-Automatisches Elektronenmikroskop, die nächste Generation von Elektronenmikrobildsystemen Das FAST-EM von delmic ist ein ultraschnelles automatisiertes Mehrstrahlelektronenmikroskop, das komplexe und große Mikrobeobachtungsprojekte einfach und effizient machen soll.Das FAST-EM verfügt über eine automatische Datenerfassung und ist daher ideal für die Bildgebung großer oder mehrerer Proben zur quantitativen Analyse.Das System bietet leistungsstarke Mikrobildgebungskapazitäten und vereinfacht gleichzeitig die Arbeitsabläufe, sodass die Anwender ihren Fokus vom Mikroskopbetrieb auf eine wirklich wertvolle Datenanalyse verlagern können.
FAST-EM,notwendig für die massive 3D-Strukturanalyse sowie die 2D-Bildgebung in Mengen,Kann zur Erkundung verwendet werden:
Schnellere Bildgebung 64 parallele Elektronenstrahlen und eine sehr kurze Aufenthaltszeit für eine sehr schnelle Datenerfassungsgeschwindigkeit Fokus auf Datenanalyse Ohne Benutzerüberwachung erfasst das System automatisch Daten, sodass sich der Benutzer auf die Datenanalyse selbst konzentrieren kann Erhalten Sie einen kontinuierlich hohen Durchfluss
Kompatibilität zwischen kleinen Details und großem Blickfeld
Erhalten Sie nanoscale-Ultramikrostrukturen, während Sie Proben in großem Maßstab bilden.
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