Weißes Lichtinterferometer zur Messung der FA-Faserendeflächenrauheit Sz-Parameter

Zur Erfassung der Anforderungen an die optische Endflächenrauhe von Lichtwellenleitergeräten in der optischen Kommunikationsindustrie basiert das weiße Lichtinterferometer der SuperView-Serie auf dem Prinzip der weißen Lichtinterferenz und dem Nano-Scan-System, mit einer Längsauflösung von 0,1 nm und der Fähigkeit zur vollständig transparenten Oberflächeninterferenzstreifenbildgebung, die eine hohe Präzision und eine hohe Wiederholbarkeit mit einem Klick für die FA-Faser-Endflächenrauhe Sz-Parameter erreichen kann.