Willkommen Kunden!

Mitgliedschaft

Hilfe

Guangzhou Mingmei Technologie Co., Ltd.
Kundenspezifischer Hersteller

Hauptprodukte:

ybzhan>Produkte
Produktkategorien

Guangzhou Mingmei Technologie Co., Ltd.

  • E-Mail-Adresse

    mmshot@188.com

  • Telefon

    18926121210

  • Adresse

    Geb?ude A, 506 Wanke Yuncheng, Huaquan Road, 1933, Tianhe Distrikt, Guangzhou

Kontaktieren Sie jetzt

Differenzielles Interferenzphasenmikroskop MJ33-DIC

VerhandlungsfähigAktualisieren am02/13
Modell
Natur des Herstellers
Hersteller
Produktkategorie
Ursprungsort

Übersicht

MJ33-DIC Differential Interference Liner Mikroskop MJ33-DIC Differential Interference Liner Mikroskop für die mikroskopische Beobachtung mehrerer Objekte

Produktdetails

Systemdiagramm Größe

MJ33-DIC Differential-Interferenz-Fasenmikroskop

MJ33-DICDifferenzielle Interferenzphasenmikroskope eignen sich für die mikroskopische Beobachtung einer Vielzahl von Objekten. Konfiguration des DIC-Beobachtungssystems und der durchlässigen Beleuchtung mit unbegrenzter Langstreckenfarbe

Differentielle Objektive, große Sichtfeldbrillen und polarisierte Beobachtungsgeräte, mit Stereo-Bildgefühl und Klarheit, schöner Gestaltung, einfacher Bedienung und anderen Merkmalen, sind Biologie, Metallologie, Mineralogie, Präzisionstechnik

  • Ideales Instrument für Forschung in Technik, Elektronik und anderen Bereichen.
  • MJ33-DIC Differential-Interferenz-Fasenmikroskop Leistungsmerkmale
  • Ausgezeichnete optische Leistung durch das unbegrenzte Fernoptiksystem.
  • Der kompakte, stabile und hochsteife Körper spiegelt die Vibrationsschutzanforderungen des Mikrobetriebs vollständig wider.
  • Ein ideales Design, das den ergonomischen Anforderungen entspricht, macht den Betrieb bequemer und komfortabler und bietet größeren Raum.

Eingebaute schaltbare Polarisationsbeobachtungseinrichtung, die sich um 360° drehen kann.

Bei der Beobachtung der Differenzierungsinterferenzphasenlinie ist das Bild klar, die interferenzfarbe ist gleichmäßig und hat ein starkes Reliefsgefühl. MJ33 DIC Differential-Interferenz-Fasenmikroskop Standardkonfiguration Projekte Spezifikationen / Parameter
Produktcode Anzahl 14010029 2
Brille Großes Sichtfeld WF10X (Anzahl der Sichtfelder Φ22mm) 14040178 1
Objektive 14040179 1
LMPlan5X/0.12 DIC Arbeitsabstand: 18,2 mm 14040180 1
LMPlan10X/0.25DIC Arbeitsabstand: 20,2 mm 14040067 1
LMPlan20X/0.35DIC Arbeitsabstand: 6,0 mm PL L40X/0.60 Arbeitsabstand: 3,98 mm 1
Brille Triogle, 30 Grad geneigt (eingebaute Inspektionspolarisierung, schaltbar) 14090001 1
DIC Beobachtungssystem Für LMPlan5X/LMPlan10X/LMPlan20X DIC Objektive
Beleuchtungssystem
1
12v 50w, Lampenzentrum einstellbar. Enthält gelbe, grüne, blaue, matte Filter. Integrierter Sichtfeld-Lichtanschluss, Apertur-Lichtanschluss, Filter-Umwandler, Schiebeinspektor und Polarisator 1
Polarizer Die Polarisationsrichtung ist einstellbar. 1
Fokussierungsorgane coaxial coaxial adjustment, Micro-Grid-Wert: 2 μm, mit Verriegelung und Positionsbegrenzung 1
Objektivumsetzer Fünf Löcher (innere Position der Kugel) 1
Laststelle Doppelschichtmechanische Bewegung (Größe: 210mmX140mm, Bewegungsbereich: 75mmX50mm) 1
Glasplatten 97mm X 76 mm 1
Transmissive Beleuchtung 1
Abbe Fokus NA=1,25 kann aufsteigen und abfallen 1
Schleifglas
Blauer Filter
1
Lichtaufnehmer, Halogenbeleuchtung geeignet (eingebaute Sichtfeldlichtleiste). 1
12v 30w Halogenlampe, einstellbare Helligkeit und einstellbare Lampenzentrum. Stromkabel 13060004 1
CCD Schnittstelle
Standard 1xC Schnittstelle Innere Sechseckschrauber 14150020 1
Ersatzlampe 14150018 1
12v 50w, 12v 30w 1

Sicherung

250v 0.5A

Farbseite herunterladen
>> Andere ähnliche Produkte:
Digitales Metallphasemikroskop
Modellnummer: ME31
Umkehrtes Metallmikroskop
Modellnummer: MJ42
Großes Tischmikroskop
Modellnummer: MJ31