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Shanghai Zhengheng Elektronik Technologie Co., Ltd.
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Automatisiertes Sondensystem ES650

VerhandlungsfähigAktualisieren am01/02
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Hersteller
Produktkategorie
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Das automatisierte Sondensystem ES650 ist eine 2-polige Detektionslösung für automatisierte Sondenstände für die Messung von HBM, MM, TLP, HMM, CC-TLP, LI-CCDM, RP-CCDM und CDM (JS-002) auf Geräten auf Verpackungs-, Wafer- und Leiterplattenebene.
Produktdetails

ESDEMC Technology LLC wurde im März 2011 von Wei Huang in Rolla, Missouri, USA gegründet.ESDEMC entwickelt ESD- und EMC-Lösungen. Das Unternehmen engagiert sich für innovative, fortschrittliche, qualitativ hochwertige und kostengünstige Lösungen sowie allgemeine Beratung, Testdienstleistungen und maßgeschneiderte Projekte.Zu den Produkten gehören Ladegeräte Modell (CDM) Systeme, KabelEntladungsereignissystem (CDE), ESD-Simulator, Impulsdämpfer, Stromsonde, TEM-Batterie für HF-Emission/Immunität, Hochspannungs-Gleichstromversorgung, maßgeschneidertes Hochspannungs-/HF-Design.ESDEMC Technology ist seit 2012 Unternehmensmitglied der ESD Association.


Automatisiertes Sondensystem ES650Es handelt sich um eine 2-polige Detektionslösung für automatisierte Sondenbänder für die Messung von HBM, MM, TLP, HMM, CC-TLP, LI-CCDM, RP-CCDM und CDM (JS-002) auf Geräten auf Verpackungs-, Wafer- und Leiterplattenebene.Neben ESD-Prüflösungen kann der ES650 auch allein für seine automatisierte Detektionsfunktion verwendet werden, um die Präzisionsautomatisierung von Sondenanwendungen zu ermöglichen: Funkfrequenzmessung, I-V-Kurvenverfolgung und viele andere Anwendungen, die eine präzise Detektion erfordern. Das Detektionssystem verwendet zwei unabhängig gesteuerte (links und rechts) XYZ-Racks mit einer Sonde, die einen Stift oder eine Schweißplatte auf einem Chip oder einem Wafer berührt. Der ES650 erfordert keine Steckdose-PCB und hat weniger parasitäre Auswirkungen als eine Relaisbasierte Lösung. Darüber hinaus unterstützt das System Multi-Device-Tests, um Fehlerprüfung und Stopp-Urteilskriterien bei Tests zu ermöglichen, in denen mehrere Geräte automatisch klassifiziert werden.


Die Probentests sind ein sehr zeitaufwendiger Bestandteil der Gerätetests, insbesondere bei Geräten mit hoher Anzahl von Stiften mit HBM, bei denen die meisten Stifte durch alle möglichen 2-Stift-Kombinationen getestet werden müssen. Vollautomatische Prüfsysteme können die Prüfeffizienz erheblich verbessern und Zeit und Messfehler reduzieren.


Neben den HBM-Impulsmodulen bietet der ES650 auch Module für andere Impulsprüfungen wie MM und HMM sowie Lösungen des Typs CDM wie FICDM, LI-CCDM, CC-TLP und RP-CCDM (ein aktuell anwendbares CDM-Verfahren auf der Basis eines kontaktbasierten ersten Relais). Das System bietet auch mechanische Messungen für andere Testmethoden wie TLP, EOS und RFID-Detektion.


Produkteigenschaften

• Einfache Ausrichtung der Nadel durch eine hochauflösende Kamera an jedem Sonderarm

● Hochpräzises Betriebssteuerungssystem (Mindestgenauigkeit 1 Mikron)

● Massenprüfung von Geräten

• Elektrische Erkennung

• Automatische Kollisionssicherheit

• Der Kontakt der Sonde kann beim Test über eine Kamera beobachtet werden

Anpassbare Testgrößen für alle Arten von Geräteprüfanforderungen

Stromsonde mit nahem DUT-Design

• Ausrüstungsprogramm

HBM Testmodule

• Datenanalyse


Produktanwendungen

• Vollautomatisches 2-Pin-Detektionssystem

S testet eine Vielzahl von gängigen ESD-Standards und -Methoden mit Leckagetestfunktionen:

√ ANSI/ESDA/JEDECJS-001-2017 (HBM)

√ ANSI/ESDASTM5.2-2019(MM)

√ ANSI/ESDASP5.6-2009(HMM)

√ ANSI/ESDASTM5.5.1-2016(TLP)

√ ANSI / ESDA / JEDECJS-002-2018(FICDM)

√ CC-TLP(ESDA SP wird noch festgelegt und erfordert VF-TLP)

√ ANSI/ESDSP5.3.3-2018(LI-CCDM, erfordert VF-TLP)

√ RP-CCDM-Test (auf Anfrage)

√ kann auf Anfrage angepasst werden


Automatisiertes Sondensystem ES650Produktspezifikation

Modell ES650-150 Der ES650-300 Einheit Bemerkung
XY-Testbereich ≥ 150X150 ≥ 300 x 300 mm Probenarm Testbereich
Z-Achse ≥ 50 mm
X, Y, Z Schritt 1 von μm
重定位精度 ≤ ±6 von μm
Testspannungsbereich
±1 bis 2000 oder 12000 V Anpassbar
Testspannungsschritt 1 V
Testspannungsgenauigkeit ± 1 % ± 0,1 V % V
XY-Auflösung 1920 x 1080 Pixel Skalierung und Bewegung unterstützt
Hauptkamera-Auflösung 2592 X 1944 Pixel Skalierung und Bewegung unterstützt
Betriebstemperatur 10 bis 40 (°C)
Arbeitsfeuchtigkeit 10 bis 80 %
Stromversorgung 120-240 VAC, 50/60 Hz VAC























Shanghai Zhengheng Elektronik Technologie Co., Ltd. shzhtechEs ist ein diversifiziertes Unternehmen für den Vertrieb von Instrumenten, die Bereitstellung von Testprogrammen, den technischen Support vor und nach dem Verkauf und die Reparatur von Instrumenten. Wir sind verpflichtet, professionelle komplette Testlösungen, technische Schulungen und Reparaturservices für Kunden in verwandten Bereichen bereitzustellen.