HAST Hochdruck Beschleunigung Lebensdauer Testbox

HAST Hochdruck Beschleunigung Lebensdauer Testbox*Hauptsächlich wird die Feuchtigkeitskapazität der Halbleiterverpackung getestet, das zu testende Produkt wird unter harten Temperaturen, Feuchtigkeit und Druck getestet, die Feuchtigkeit wird entlang der Schnittstelle des Koloids oder Koloids und des Leiterahmens in den Verpackungskörper eindringen, die häufige Fehlerweise ist der aktive Metallisierungsbereich, der durch Korrosion verursacht wird, oder der Kurzschluss zwischen den Verpackungsstiften durch Verschmutzung verursacht wird. PCTZ ist hauptsächlich das Testen der Feuchtigkeitsfähigkeit der Halbleiterverpackung, das zu testende Produkt wird unter harten Temperaturen, Feuchtigkeit und Druck getestet, und die Feuchtigkeit wird entlang des Kolliden oder der Schnittstelle des Kolliden und des Leiterhalters in den Verpackungskörper eindringen.

◆ Konstruktion der Vakuumpumpe (Luftabfuhr im Kessel) zur Verbesserung der Druckstabilität und Reproduzierbarkeit;

◆ Lange experimentelle Betriebszeit, lange Betriebszeit der Testmaschine 300 Stunden;

◆ Trocknungskonzept, Testbeendigung der Vakuumtrocknungskonzept, um die Trocknung des Testbereichs (zu testenden) sicherzustellen;

◆ Schutz des Wasserstandes durch den Wasserstandsensor im Ofen;

◆ Druckbeständigkeit Design, Gehäuse Druckbeständigkeit (140 ℃) 2,65 kg, entspricht der Wasserdruckprüfung 6k;

◆ Zweistufige Drucksicherheitsvorrichtung, mit zwei-stufigen Kombinationsreglern und mechanischen Druckschutzeinrichtungen;

◆ Sicherheitsschutz-Abdruckknopf, Notfallsicherheitseinrichtung Zweistufenautomatischer Abdruckknopf;

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