Verios XHR SEM

VeriosJa.FEIFührendXHR(hohe Auflösung)SEMProdukte der zweiten Generation der Serie. In der Spitzenherstellung von Halbleitern und Materialwissenschaftlichen Anwendungen kann es in 1 bis30 kVSub-Nano-Auflösung und verbesserter Kontrast im Bereich, um die Anforderungen für präzise Materialmessungen zu erfüllen, ohne herkömmliche Scan-Elektronenmikroskope zu schwächen(SEM)hoher Durchsatz, Analysefähigkeit,Vorteile wie Probenflexibilität und Benutzerfreundlichkeit.

VeriosMaterialwissenschaftliche Anwendungen

Für Materialwissenschaftler,VeriosDie Sub-Nano-Charakterisierung kann auf neue Materialien erweitert werden, die derzeit entwickelt werden (z. B. Katalysatorpartikel, Nanoröhren, Poren, Schnittstellen, biologische Objekte und andere Nanostrukturen), um ihnen wichtige neue Entdeckungen zu ermöglichen. Keine Umstellung erforderlichTEMOder mit anderen Bildgebungstechnologien erhalten Sie hochauflösende, kontrastreiche Bilder.VeriosFlexibel für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen und für große Proben wie Wafer in voller Größe oder metallurgische Proben. Sie können schnelle Analysen im Hochstrommodus durchführen oder präzise Prototypenanwendungen durchführen, wie z. B. die direkte Ablagerung von elektronenstrahlenduzierten Materialien oder die Lichtgravur.

Ausgezeichnete niedrige SpannungSEMAuflösung und Materialkontrast

VeriosEntwickelt, um die veröffentlichbaren Ergebnisse Ihres Labors zu erhöhen.VeriosKann500 eVnach30 keVDie Sub-Nano-Auflösung im gesamten Energiebereich erweitert sich auf neue Materialien wie Katalysatorpartikel, Nanoröhren, Poren, Schnittstellen, biologische Objekte und andere Nanostrukturen. Keine Umstellung erforderlichTEMOder mit anderen Bildgebungstechnologien erhalten Sie hochauflösende, kontrastreiche Bilder.VeriosFlexibel für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen und für große Proben wie Wafer in voller Größe oder metallurgische Proben. Sie können schnelle Analysen im Hochstrommodus durchführen oder präzise Prototypenanwendungen durchführen, wie z. B. die direkte Ablagerung von elektronenstrahlenduzierten Materialien oder die Lichtgravur.

Erkunden Sie die hohe AuflösungSEMDie präsentierte Welt

VeriosJa.FEIFührendXHR SEMSerie von Produkten der zweiten Generation, durch 1 nach30 kVDie Auflösung auf Sub-Nano-Ebene des Energiebereichs zur Bereitstellung einer genauen Bildgebung. Es bietet den ausgezeichneten Kontrast, der für die präzise Messung von Materialien in einer Vielzahl von Anwendungsbereichen erforderlich ist, ohne hohen Durchsatz, Analysefunktionen, Probenflexibilität und Tradition zu beeinträchtigen.SEMBenutzerfreundlichkeit.VeriosEinzigartige Technologien wie z.B. ein konstantes Leistungsobjektiv zur Verbesserung der Wärmestabilität und ein elektrostatisches Scannen zur Verbesserung der Ablenkung. Es ist sehr flexibel bei der Auswahl von Parametern, bei der Verarbeitung großer Proben oder bei der Unterstützung weiterer Anwendungen wie Analyse oder Lithographie. Mit HilfeVerios XHR SEMOb Anwender oder Experten können in kurzer Zeit genaue, vollständige Nano-Daten erhalten und Informationen entdecken, die bisher mit anderen Technologien nicht verfügbar waren.