Hochauflösendes Wärmefeldemissionsscannelektronenmikroskop

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Das funktionsreiche, hochleistungsfähige SEMApre-Composite-Objektiv des Scan-Elektronenmikroskops Apreo kombiniert elektrostatische und magnetische Immersion-Technologien für eine hohe Auflösung und Signalwahl

Produktdetails

Scan-Elektronenmikroskop

Apreo

Hochleistungs-SEM mit vielen Funktionen

Das Design von Apreo Composite Objektiven kombiniert elektrostatische und magnetische Eintauchtechnologien, um eine hohe Auflösung und Signalwahl zu erzeugen. Dies macht Apreo zu einer Forschungsplattform für die Untersuchung von Nanopartikeln, Katalysatoren, Pulver und Nanogeräten, ohne die magnetische Probenleistung zu beeinträchtigen.

Apreo profitiert von der Detektion der Rückstreuung innerhalb der Linse, die einen ausgezeichneten Materialkontrast bietet, auch bei Neigungen, kurzen Arbeitsabständen oder für empfindliche Proben. Die neue Composite-Linse verbessert den Kontrast durch Energiefilterung weiter und erhöht die Ladungsfilterung für die Bildgebung isolierender Proben. Der optionale Niedervakuummodus mit einem maximalen Probenhausdruck von 500 Pa ermöglicht die Bildgebung anspruchsvoller Isolatoren.

Mit diesen Vorteilen, darunter Verbundlinsen, erweiterte Erkennung und flexible Probenbehandlung, bietet Apreo eine hervorragende Leistung und Vielseitigkeit, um Ihnen bei den Forschungsarbeiten der Zukunft zu helfen.

Apreo Materialwissenschaftliche Anwendungen

Das neue Apreo Scan-Elektronenmikroskop (SEM) untersucht eine Vielzahl von Materialien wie Nanopartikel, Metalle, Verbundstoffe und Beschichtungen und bietet innovative Funktionen für bessere Auflösung, Kontrast und Benutzerfreundlichkeit.

Die einzigartigen Composite-Endlinsen bieten eine hervorragende Auflösung (1,0 nm bei 1 kV-Spannung) auf jeder Probe, auch bei Neigungen oder bei topografischen Messungen, ohne Elektronenstrahlverlangsamung.
Rückstreuungsdetektion - ein guter Materialkontrast ist immer gewährleistet, auch bei der Bildgebung von Elektronenstrahlempfindlichen Proben mit TV-Geschwindigkeit bei niedriger Spannung und Elektronenstrahlstrom und in jedem Neigungswinkel.
Detektoren - Sie können die von den einzelnen Detektorteilen bereitgestellten Informationen kombinieren, um einen entscheidenden Kontrast oder Signalstärke zu erzielen.

Erleben Sie die Vorteile von Apreo SEM

Composite EndlinsenEine ausgezeichnete Auflösung (1,0 nm bei 1 kV Spannung) kann auf jeder Probe (auch bei Neigungen oder Topographie) ohne Elektronenstrahlverlangsamung geliefert werden.
Rückstreuungsdetektion- Gewährleisten Sie stets einen guten Materialkontrast, auch bei der Bildgebung von Elektronenstrahlempfindlichen Proben mit niedriger Spannung und Elektronenstrahlstrom und in jedem Neigungswinkel.
DetektorenDie Informationen der einzelnen Detektorteile können kombiniert werden, um einen entscheidenden Kontrast oder Signalstärke zu erzielen.
Verschiedene Strategien zur EntlastungInklusive eines niedrigen Vakuummodus mit einem Probenhausdruck von bis zu 500 Pa ermöglicht das Bildgebung jeder Probe.
Analyseplattform:Bietet einen hohen Elektronenstrahlstrom und einen kleinen Fleck. Das Probenlager unterstützt drei EDS-Detektoren, gemeinsame EDS und EBSD sowie ein für die Analyse optimiertes Niedervakuumsystem
Probenbehandlung und Navigation sehr einfachMehrzweckmusterhalter und Nav-Cam+.

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