Tischmikroskop TM4000 / TM4000 Plus

Produktdetails:

Desktop-Scan-Elektronenmikroskop(SEM)Ganz neues Upgrade.

Wir haben“Höhere Bildqualität, einfacher zu bedienen, einfacher zu beobachten”Für die Idee entwickeltTM4000Serie. Auf dieser Grundlage haben wir vielfältigere Funktionen eingeführt.TM4000ⅡSerie.
Neue Beobachtungs- und Analyseanwendungen.

Eigenschaften:

Bild beobachten3Minuten. Sie können die benötigten Daten schnell abrufen und Berichte erstellen.

||Flexibilität bei Beobachtung und Analyse

Automatischer Zugang zu Daten. Schnell wechseln!

Schneller Zugang zu Elementverteilungsdiagrammen*2

*1 TM4000PlusⅡFunktionen.

*2Auswahl

||VerwendenCamera Navi*So einfach.

Camera NaviBild ermöglicht es Ihnen, leicht zu finden, Horizonte, Verteilungskarten(MAP)Funktionen unterstützen Ihre Beobachtung

* Optionen:Camera NaviSystem

||Einfach und schnell zu bedienen

Beobachten Sie das Bild nur 3 Minuten.
Sie können Bilder schnell beobachten und Testberichte exportieren.

||Report CreatorSie können Berichte einfach erstellen

Wählen Sie einfach Bilder und Vorlagen aus und erstellen Sie sie.Microsoft Word、Excel、PowerPointFormat des Berichts

||Auch Isolierstoffproben können ohne Vorbehandlung direkt beobachtet werden.

“Elektrostatische Reduzierungsmodus”Unterdrückt elektrostatische Phänomene

Für Proben, die leicht statische Elektrizität erzeugen, kann verwendet werden“Elektrostatische Reduzierungsmodus”Beobachtung unter Unterdrückung der statischen Elektrizität.

Wechseln Sie einfach mit einem Mausklick auf die Software“Elektrostatische Reduzierungsmodus”.

||Vielfältige Beobachtungen unter geringen Vakuumbedingungen möglich

Proben wie Pulver oder Wasser, die leicht statische Elektrizität erzeugen, können in Verbindung mit ihrem Zweck beobachtet werden.

||Die sekundäre Elektronenbildbeobachtung (Oberflächenform) kann unter geringen Vakuumbedingungen durchgeführt werden.

Ohne Vorbehandlung kann auch die Oberfläche von Isolatoren und wasserhaltigen und ölhaltigen Proben beobachtet werden

Nicht nur die Beobachtung herkömmlicher leitfähiger Proben, sondern auch Isolatoren und wasserhaltige und ölhaltige Proben ohne Vorbehandlung. Ein schneller Wechsel zwischen Sekundärelektronenbild und Rückstreuelektronenbild ist möglich.

||Sekundäre Elektronik mit hoher Empfindlichkeit und niedrigem Vakuum

Elektronischer Sekundärdetektor mit hoher Empfindlichkeit und niedrigem Vakuum(UVD)Durch die Erkennung des Lichts, das durch die Kollision zwischen Elektronenleitungen und restlichen Gasmolekülen erzeugt wird, können Bilder mit sekundären Elektroneninformationen beobachtet werden. Darüber hinaus kann durch die Steuerung des Detektors, um das durch Elektronenbestrahlung erzeugte Licht zu erkennen, erhalten werden.CLInformationen (UVD-CL: mitCLBild der Informationen).

||Unterstützt Beschleunigungsspannung20 kV

TM4000Ⅱ/TM4000Plus IIUnterstützt Beschleunigungsspannung20 kV.

MitEDSAnalyse (optional), um eine höhere Zählrate zu analysieren.

||Durch beschleunigte Spannung20 kVVerwirklichungEDSHöhe der ElementverteilungS/NTransformation

||Multi Zigzag(Optional)

Realisierbar im weiten BereichSEMBeobachten.

Mit einem automatischen Motortisch können niedrige Vergrößerungen, hohe Präzision und umfangreiche Beobachtungsanalysen erzielt werden.

||EMProbenstand (optional)

||Leicht beobachtbar STEMBild

Mit völlig neu entwickeltenSTEMProbentasche und hochempfindliche sekundäre Elektronik-Detektoren mit niedrigem Vakuum(UVD)In Kombination können kleine Vergrößerungen einfach beobachtet werdenSTEMBilder.

Dünnfilmproben und Bioproben können leicht beobachtet werden.

||Produktspezifikationen: