Willkommen Kunden!

Mitgliedschaft

Hilfe

Hunan Shengming Technologie Co., Ltd.
Kundenspezifischer Hersteller

Hauptprodukte:

ybzhan>Produkte

Hunan Shengming Technologie Co., Ltd.

  • E-Mail-Adresse

    smkj526@163.com

  • Telefon

    18100753880吴,18175146520邹

  • Adresse

    Geb?ude S5, Chunghui Business Center (Oaks Center), 182 Xiangsan South Road, Yueluu District, Changsha, Provinz Hunan.

Kontaktieren Sie jetzt

Olympus Kofokusmikroskop OLS5000

VerhandlungsfähigAktualisieren am03/16
Modell
Natur des Herstellers
Hersteller
Produktkategorie
Ursprungsort
Übersicht
Olympus 3D Laserkonfokusmikroskop LEXTOLS5000Das Olympus OLS50003D Laserkonfokusmikroskop verfügt über ein fortschrittliches optisches System, das durch zerstörungsfreie Beobachtung hochwertige Bilder für präzise 3D-Messungen, die Messung der Oberflächenrauheit nach ISO-Normen usw. generiert. Die Vorbereitung ist sehr einfach und erfordert keine Vorbehandlung der Probe.
Produktdetails
Olympus 3D Lasermikroskop LEXT OLS5000


Das Olympus OLS5000 3D-Mess-Laser-Kofokussmikroskop verfügt über ein fortschrittliches optisches System, das durch zerstörungsfreie Beobachtungen hochwertige Bilder für präzise 3D-Messungen, die Messung der Oberflächenrauhe nach ISO-Normen usw. generiert. Die Vorbereitung ist sehr einfach und erfordert keine Vorbearbeitung der Probe.

LEXT OLS5000 3DDas Messlasermikroskop ist mit zwei optischen Systemen ausgestattet (Farbbildoptik und Laserkonfokus), die es ermöglichen, Farbinformationen, Höheninformationen und hochauflösende Bilder zu erfassen.


LEXT OLS5000 3DLasermikroskope zur Messung4Große Schlüsselwerte:

·Erfassen Sie beliebige Oberflächenformen.

·Schneller Zugang zu zuverlässigen Daten.

·Einfach zu bedienen-Legen Sie einfach die Probe und drücken Sie auf den Knopf.

·Messung anspruchsvoller Proben.

Wert1Erfassen Sie beliebige Oberflächenformen.

OLS5000Die fortschrittliche Technologie des Mikroskops ermöglicht es, hochauflösende3DProbenmessungen.


Wert2Schneller Zugang zu zuverlässigen Daten

Der Scan-Algorithmus des Mikroskops verbessert sowohl die Datenqualität als auch die Geschwindigkeit, um Ihre Scanzeit zu verkürzen und Ihren Arbeitsablauf zu vereinfachen.zuischließlich die Produktivitätssteigerung erreichen.


Wert3Einfach zu bedienen, legen Sie einfach die Probe und drücken Sie auf den Knopf

LEXT ® OLS5000Das Mikroskop verfügt über eine automatische Datenerfassung, so dass keine komplizierten Einstellungsanpassungen erforderlich sind. Selbst unbekannte Anwender können genaue Testergebnisse erhalten.


Wert4Messbar für anspruchsvolle Proben

Eine niedrige Leistung, kontaktlose, verlustfreie Lasermessung bedeutet, dass keine Probenvorbereitung erforderlich ist. Die Messung kann ohne Beschädigung der anfälligen Materialien erfolgen. Erweiterungsrahmen können bis zu210Millimeterproben, während das Objektiv über eine sehr lange Arbeitsdistanz Tiefen messen kann25Millimetergraben. Bei der Messung beider Arten von Proben müssen Sie die Probe einfach auf den Tragstand legen.


[Farbinformationen erhalten]
Farbbildoptische Systeme mit weißem LichtLEDLichtquelle undCMOSDie Kamera erhält farbige Informationen.
[Erhalten3DHochinformative und hochauflösende konfokusierte Bilder]
Laser-confokus-optisches System405Nano-Laserdioden-Lichtquellen und hochempfindliche Photomultiplikatoren erhalten konfokale Bilder. Die geringe Fokustiefe ermöglicht es, Oberflächenuntergängigkeiten in Proben zu messen.


[405Nanolaserlichtquellen]

Die horizontale Auflösung des optischen Mikroskops steigt mit der Verringerung der Wellenlänge. Lasermikroskope mit Kurzwellenlängenlasern im Vergleich zu sichtbarem Licht (Spitze)550Traditionelle Mikroskope von Nano) haben eine bessere horizontale Auflösung.OLS5000Verwendung des Mikroskops405Nano-Kurzwellenlängen-Laserdioden erzielen eine hervorragende horizontale Auflösung.


[Laserkonfokus-Optik]

Das Laser-confokus-optische System empfängt nur Licht, das durch ein rundes Nadelloch fokussiert wird, und erfasst nicht das gesamte Licht, das von der Probe reflektiert und gestreut wird. Dies hilft, die Verschwommenheit zu beseitigen und ermöglicht es, ein Bild mit einem höheren Kontrast als ein normales Mikroskop zu erhalten.


[X-YScanner]

OLS5000Das Mikroskop ist mit einem Olympus Optical Scanner ausgestattet. Durch die Verwendung elektromagnetischer InduktionMEMSResonanzscannerXAchse und AnwendungGalvanoScannenglasYDie Kombination der Achsen ermöglichtX-YDie Positionierung des Scanners in der Position der relativen Objektivpupilkonjugation ermöglicht eine hohe Leistung durch geringere Scanbahnverzerrungen und geringere optische AbweichungenX-YScannen.


[Höhenmessprinzip]

Bei der Höhenmessung erfasst das Mikroskop mehrere konfokale Bilder, indem es die Fokusposition automatisch bewegt.
Abhängig von der nicht kontinuierlichen Fokusposition (Z(und Lichtintensität)IDie Lichtintensitätsveränderungskurve für jedes Pixel kann geschätzt werden (I-ZKurven) und erhalten ihre Spitzenposition und Spitzenstärke. Da die Spitzenpositionen aller Pixel der Unregelmäßigkeit der Probenoberfläche entsprechen, kann eine3DForm Informationen. Ähnlich können durch Spitzenintensitätsdaten Bilder mit allen Positionen des Fokus auf der Probenoberfläche erhalten werden (erweitertes Bild).



Spezifikationen:

Modellnummer

OLS5000-SAF

OLS5000-SMF

OLS5000-LAF

OLS5000-EAF

OLS5000-EMF

Gesamtvergrößerung

54x - 17,280x

Sichtfelddurchmesser

16 μm - 5,120 μm

Messprinzip

Optische Systeme

Reflexionskonfokaler Laser-Scan-Lasermikroskop
Reflexionskonfokaler Laser-Scanner-DIC-Mikroskop
Farbe
Farbe DIC

Lichtempfängerelemente

Laser: Photomultiplikator (2ch)
Farbe: CMOS-Farbkamera

Höhenmessung

Anzeigeauflösung

0.5 Nano

Dynamischer Bereich

16 Bit

Wiederholbarkeit n-1*1*2*6

20x : 0.03μm, 50x : 0.012 μm, 100x : 0.012 μm

Genauigkeit * 1 * 3 * 6

Messwert +/- 1,5%

Bildgenauigkeit * 1 * 4 * 6

20x : 15+0.5Lμm, 50x: 9+0,5L μm, 100x: 7+0,5L μm (L: Fülllänge [μm])

Messgeräusch (SQ-Geräusch) * 1 * 5 * 6

1 Nano

Breitenmessung

Anzeigeauflösung

1 Nano

Wiederholbarkeit 3 n-1 *1 *6

20x : 0.05μm, 50x : 0.04 μm, 100x : 0.02 μm

Genauigkeit * 1 * 3 * 6

Messwert +/- 1,5%

Bildgenauigkeit * 1 * 3 * 6

20x : 15+0.5Lμm, 50x: 9+0,5L μm, 100x: 7+0,5L μm (L: Fülllänge [μm])

Zui-Anzahl der Messpunkte bei einer einzelnen Messung

4096 x 4096Pixel

Zui große Anzahl von Messpunkten

3600 Megapixel

XYKonfiguration der Tragstelle

Längenmessmodul

Keine

Keine

Keine

Arbeitsbereich

100 x 100 mmElektrische

100 x 100 mmManuell

300 x 300 mmElektrische

100 x 100 mmElektrische

100 x 100 mmManuell

zuiGroße Probenhöhe

100 mm

30 mm

30 mm

210 mm

140 mm

Laserlichtquelle

Wellenlänge

405 nm

zuiGroße Ausgabe

0.95 mW

Laserklassifizierung

2 Klassen (IEC60825-1:2007, IEC60825-1:2014)

Farbige Lichtquelle

Weiße LED

Elektrische Leistung

240 W

240 W

278 W

240 W

240 W

Qualität

Mikroskop-Körper

ca. 31 kg

ca. 30 kg

ca. 50 kg

ca. 43 kg

ca. 39 kg

Steuerung

ca. 12 kg