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Shenzhen Zhongpu Instrument Co., Ltd.
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Mittelbild-Instrument Weißes Licht-Interferenz-3D-Oberflächenkontimeter

VerhandlungsfähigAktualisieren am12/10
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Übersicht
Weißes Licht-Interferenz-3D-Oberflächenkontometer wird weit verbreitet in der Präzisionsherstellung, elektronischen Halbleitern, Automobilteilen, neuen Materialien, medizinischen Geräten und anderen Bereichen verwendet, um die Oberflächenformmerkmale verschiedener Produkte, Komponenten und Materialien zu messen und zu analysieren.
Produktdetails

SuperViewW MittelbildgerätWeißes Licht Interferenz 3D OberflächenkontimeterDie Anpassung zu mehreren Szenarien, die hohe Präzision der Messung und der intelligente Betrieb bieten drei Vorteile, die die Messprobleme von ultraglatten / rauen Materialien, Nano / Mikron-Genauigkeit und niedriger Effizienz der Mengendetektion in einer Hand lösen können.

中图仪器白光干涉3D表面轮廓仪

1. Kernfunktionen des Produktes

1. Messkapazität: Abdecken Sie die gesamte Probenoberfläche, ohne den Messmodus zu wechseln, um sich an eine Vielzahl von Inspektionsszenarien von Präzisionsgeräten bis hin zu Mengen von Werkstücken anzupassen.

2. Automatisierungserfahrung: Die Steuerstange bedient alle Achsen bequem, unterstützt die Array-Mehrbereichsmessung, die automatische Positionskorrektur des Markpunkts, und die Messpunkte der Schaltproben müssen nicht wiederholt werden.

3. Datenverarbeitung und Export: Eingebaute Rauschenentfernung, Filterung und andere vier Datenverarbeitungsmodule, Rauheit, geometrische Konturen und andere fünf Analysefunktionen, die den Export von Berichten im Word / Excel / PDF-Format unterstützen, um die Anforderungen an Qualitätsprüfung und Datenanalyse zu erfüllen.

4. Stabilität und Sicherheit: Luft-Isolierung Schwingungsbasis isoliert Schwingungsstörungen, 0,1 nm-Auflösung Umweltgeräusch Bewertung Funktion gewährleistet die Genauigkeit der Daten; Doppel-Objektiv-Kollisionsschutz, Lichtquelle automatische Lichtauslösung Design, um Geräteverlust und Betriebsrisiko zu reduzieren.


2. Kernpunkte der Produkte

1. Vollständige Szenenabdeckung: Ein Scanmodus ist für ultraglatte bis raue, Spiegel bis transparente / schwarze Materialien geeignet, die Rauheit, Gleichheit, Mikrokontur und andere Parameter von Nano bis Mikron-Werkstücken können genau gemessen werden, ohne die Ausrüstung zu ersetzen, um eine Vielzahl von Produktprüfungsanforderungen zu erfüllen.

2. Hohe Präzision + großer Bereich doppelter Durchbruch: Der EPSI-Rekonstruktionsalgorithmus löst die Engpässe der herkömmlichen Technologie, die Funktion des automatischen Splitzens unterstützt mehrere Muster wie Quadrate, Kreise und andere, Tausende von Bildern sind nahtlos geschnitten, und das ultraglatte Konvum-Bogenscannen kann auch die Rekonstruktion ohne Überlappungsspalten erreichen.

3. Effiziente Automatisierung, Kostenreduzierung: Ein Klick für die automatische Messung mit einem oder mehreren Bereichen, die Mengenanalyse, die Programmiermessfunktion kann den Prozess mit einem Klick einstellen, die einzelne feine Gerätemessung ist kurz und verbessert den Detektionsdurchgang erheblich.

Selbstforschende Softwareplattform: Die Xtremevision Pro zweite Generation von 3D-Messsoftwareplattformen ist für mehrere Modelle geeignet und erweiterbar. Die vier Module, die Bildscannung, 3D-Analyse, Bildmessung und automatisierte Messung integrieren, eignen sich für alle 3D-Instrumentenmodelle der W/VT/WT-Serie. Unterstützt weißes Licht Interferenz und kofokus Mikroskop automatisch schalten, können Sie die Entfernung, den Winkel, den Radius und andere Parameter der Kontur der mikroskopischen Ebene direkt messen, kombiniert mit der flexiblen automatischen Splitzfunktion, benutzerdefinierte Messbereiche unbegrenzt.

中图仪器白光干涉3D表面轮廓仪

III. Anwendungsbereiche

Mittelbild-InstrumentWeißes Licht Interferenz 3D OberflächenkontimeterWeit verbreitet in der Präzisionsherstellung, elektronischen Halbleitern, Automobilteilen, neuen Materialien, medizinischen Geräten und anderen Bereichen, um die Oberflächenmormalmerkmale von verschiedenen Produkten, Komponenten und Materialoberflächen zu messen und zu analysieren.

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